Категория
Прочее
Тип
программа
Страницы
6 стр.
Дата
31.03.2013
Формат файла
.doc — Microsoft Word
Архив
299040.zip — 7.78 kb
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо



Текст работы

Утверждаю
декан физико-технического
факультета
________________Педько Б.Б.
Программа
для вступительных
экзаменов в магистратуру по направлению
«Физика современных радиоэлектронных технологий»

Физическая кристаллография


  1. Элементы симметрии кристаллов. Понятие о симметрии. Конечные элементы симметрии.

  2. Формы кристаллов. Простые формы и комбинации. Скелеты и антискелеты. Сростки кристаллов.

  3. Кристаллизация как фазовый переход. Термодинамические силы и потоки при росте кристаллов.

  4. Типы связи в структурах. Металлическая связь. Ионная связь. Ковалентная связь.

  5. Кристаллохимические радиусы. Межатомные расстояния. Атомные и ионные радиусы.

Физика кристаллизации

  1. Монокристаллы, поликристаллы, двойники. Кристаллическая решетка.

  2. Кристаллографические группы. Типы групп симметрии.

  3. Симметрия физических свойств кристаллов. Скалярные и тензорные свойства кристаллов.

  4. Оптические свойства кристаллов. Оптические характеристики кричсталлов, гиротропия.

Материаловедение электронной техники

  1. Основные свойства полупроводников, диэлектриков и металлов: электрические, оптические, магнитные и механические.

  2. Термодинамика фазовых равновесий. Условия равновесия. Диаграммы состояния.

  3. Структурные дефекты: точечные, линейные, двумерные. Объемные несовершенства.

  4. Диффузия в полупроводниках и металлах. Количественные закономерности диффузии. Влияние структурных несовершенств, состава природы матрицы и диффузанта на скорость и параметры диффузии.

  5. Фазовые превращения. Образование и рост зародышей новой фазы. Фазовые превращения в твердой фазе.

  6. Поверхностная энергия. Межфазные границы раздела.

  7. Проблемы получения данных о структуре материалов.

  8. Метод коноскопии.

  9. Получение и свойства рентгеновских лучей.

  10. Основы теории дифракции.

  11. Вектор обратной решетки.

  12. Определение возможных направлений отражения.

  13. Метод Лауэ.

  14. Метод Дебая-Шеррера.

  15. Метод вращения.

  16. Структурная амплитуда.

  17. Лауэвские классы симметрии.

  18. Особенности рентгенограмм.

  19. Электронография.

  20. Электронная микроскопия.

  21. Приготовление образцов

  22. Нейтронография.

  23. Мессбауэрография.

  24. Каналирование частиц и эффект теней.

  25. Взаимодействие дислокаций с точечными дефектами.

  26. Термоупругие напряжения в кристалле.

  27. Теория разрушения кристалла.

  28. Оптические аномалии в кристалле, обусловленные явлением фотоупругости.

  29. Рассеяние света в кристаллах.

  30. Гиротропия кристаллов. Тензор гиротропии.

  31. Микротвердость кристаллов.



Ваше мнение



CAPTCHA