Категория
Коммуникации и связь
Тип
реферат
Страницы
12 стр.
Дата
06.04.2014
Формат файла
.html — Html-документ
Архив
1017058.zip — 8.15 kb
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо



Текст работы

Тольяттинский Государственный Университет

Электротехнический факультет

Кафедра “Промышленная электроника"

КУРСОВАЯ РАБОТА

«ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХМИКРОСХЕМ 155 СЕРИИ»

Студент: Моторин С.К.

Группа: Э-506

Преподаватель: Бредихин Б.В.

Тольятти 2004


Содержание

Введение

1. Техническое задание

2. Инженерная интерпретация задачи

3. Разработка обобщенной блок-схемы алгоритма работыконтроллера

4. Разработка интерфейса программно-аппаратногокомплекса

5. написание подпрограммы тестирования интегральноймикросхемы К155ЛА1

6. Выбор расчет элементов схемы

Заключение

Список литературы.


Введение

В настоящее время, производстворадиоэлектронных компонентов и микросхем очень распространено. Однако при ихпроизводстве возникает вопрос работоспособности изготовленного элемента. Таккак качество получаемого элемента зависит от внутренней структуры материала, вкоторой могут быть дефекты. В данном случае элемент окажется неработоспособным.Поэтому необходимо после изготовления проводить испытания, по результатамкоторых делать выводы о работоспособности элемента. Устройства, проводящиепроверку правильности функционирования, называют тестерами. При проверкеработоспособности интегральных микросхем целесообразно использовать универсальныетестеры, способные тестировать несколько типов микросхем. Задачей данногокурсового проекта является разработка программно-аппаратного комплекса длятестирования интегральных микросхем 155 серии.



Ваше мнение



CAPTCHA