Категория
Информатика
Тип
дипломная работа
Страницы
23 стр.
Дата
12.04.2013
Формат файла
.html — Html-документ
Архив
374389.zip — 15.55 kb
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо


Текст работы

Федеральное
агентство по образованию

Государственное
образовательное учреждение

начального
профессионального образования

«Профессиональный
лицей №22»


ПИСЬМЕННАЯ

ЭКЗАМЕНАЦИОННАЯ

РАБОТА


Тема:
«Пробник для проверки цифровых микросхем»


Группа: 3/2

Профессия:

«Наладчик контрольно
измерительных приборов и автоматики»

Разработчик

Руководитель Н.В. Хархота

Мастер п/о З.А. Учаева

Зам. директора по УПР        
Л.Н. Ганус


Старый Оскол

2009

СОДЕРЖАНИЕ

ВВЕДЕНИЕ

1.ОБЩАЯ ЧАСТЬ

1.1. Общие сведения об Оскольском электрометаллургическом
комбинате (ОЭМК)

1.2 Общие сведения об управлении автоматизации и метрологии
(УАМ)

1.3 Основные функции и задачи центральной лаборатории измерительной
техники (ЦЛИТ)

2.СПЕЦИАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

2.1. Пробник для проверки цифровых микросхем

2.2 Принцип устройства и работа интегральной микросхемы
(ИМС)-DD1 (К155ЛА3)

2.3. Устройство и принцип работы светодиода (VD1-VD4)

3.ОХРАНА ТРУДА

3.1 Охрана труда на Оскольском электро металлургическом
комбинате (ОЭМК)

3.2. Организационные и технические мероприятия, обеспечивающие
безопасность работ в электроустановках на ОЭМК

3.3 Охрана труда наладчика по контрольно-измерительным
приборам и автоматике (КИПиА) в управлении автоматизации и метрологии (УАМ)



Ваше мнение



CAPTCHA