Категория
Информатика
Тип
реферат
Страницы
9 стр.
Дата
31.03.2013
Формат файла
.html — Html-документ
Архив
299868.zip — 7.1 kb
  • izmeritelnyj-kontrol-v-opticheskoj-mikroskopii_299868_1.html — 23.77 Kb
  • Readme_docus.me.txt — 125 Bytes
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо


Текст работы

"Измерительный контроль в оптической микроскопии" МИНСК, 1. ОПТИЧЕСКАЯ (СВЕТОВАЯ) МИКРОСКОПИЯ Простейшим микроскопом является двухлинзовый микроскоп. На рис.2. схематично показано как формируется микроскопическое изображение в системе двух собирающих линз. Первая из них - объектив, формирует действительное увеличенное изображение объекта АВ - А’В’. Рис.1. Классификация оптических методов

НК Рис.2. Схема двухлинзового микроскопа 1 - объектив; 2 - окуляр; 3 - измерительная шкала или сетка Изображение А'В' затем рассматривается в окуляр (вторая линза), и окончательное изображение А"В", получаемое при этом, является мнимым. Формированию изображения в световом микроскопе сопутствуют, согласно теории

Аббе, два эффекта, снижающих разрешающую способность: сначала дифракция света на микроскопических деталях объекта, затем, после прохождения дифрагированных лучей через линзу, их интерференция. Эти эффекты не позволяют изучать микрообъекты размером менее 10-6 м. Чтобы изучать более малые микрообъекты применяют метод "тёмного поля" (рис.3). Его принцип состоит в том, что исследуемый прозрачный объект освещается косыми лучами, которые при

отсутствии рассеяния или преломления не попадают в объектив микроскопа. Если же объект исследования содержит включения, также прозрачные, но с другим показателем преломления, то лучи, прошедшие через эти включения и изменившие своё направление, попадают в объектив и визуализируют их. Поскольку основная часть световых лучей минует объектив, поле зрения остаётся тёмным и на его фоне видны светлые изображения микровключений. В микроскопе, реализующем метод "тёмного поля" (ультрамикроскопе),

видны частицы размером 2*10-9 м. Важными областями применения ультрамикроскопов является контроль чистоты атмосферы, воды, поверхностей и т.д. Однако недостатком таких микроскопов является невозможность измерения геометрических размеров микровключений и дефектов (они обнаруживаются, но чёткого очертания их формы не получается). Рис.3. Образование темнопольного изображения при прямом (а) и косом (б) освещении объекта: 1 - осветитель; 2 - зеркало; 3 - затемняющая пластина;



Ваше мнение



CAPTCHA