Категория
Информатика
Тип
дипломная работа
Страницы
48 стр.
Дата
28.09.2015
Формат файла
.html — Html-документ
Архив
1080914.zip — 27.6 kb
  • razrabotka-svch-bloka-ustrojstva-dlja-beskontaktnogo-izmerenija-jelektrofizicheskix-parame_1080914_1.html — 128.82 Kb
  • Readme_docus.me.txt — 125 Bytes
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо


Текст работы

ОГЛАВЛЕНИЕ


ВВЕДЕНИЕ

1. Прибор неразрушающего контроля электрофизических параметров полупроводников ИВК « SemiCon - 1 »

.1 Принцип работы

.1.1 СВЧ резонаторный метод для бесконтактного локального измерения удельного сопротивления

.1.2 Метод импульсной фотопроводимости на СВЧ для измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в кремнии и германии

.2 Функциональная схема прибора

.3 Влияние параметров СВЧ блока на метрологические характеристики. Цель работы. Основные задачи. Требования к СВЧ генератору для прибора

. Общие положения. Генератор, управляемый напряжением (ГУН)

.1 Принципы построения ГУН

.2 Основные параметры ГУН

. Исследование СВЧ генераторов, используемых в ИВК

.1 СВЧ генератор по схеме с эмиттерной связью

.2 Детекторная секция

.3 Основные недостатки работы СВЧ блока

. Разработка СВЧ блока

.1 ГУН. Обзор литературы. Его выбор и разработка. Характеристики

.2 СВЧ детекторы. Обзор литературы. Выбор и разработка квадратичного детектора

. Работа прибора с новым СВЧ блоком

.1 Установка СВЧ блока в прибор. Методика измерения удельного сопротивления при температуре от 0 до 50 С

.2 Экспериментальные результаты. Выводы

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

ПРИЛОЖЕНИЕ


ВВЕДЕНИЕ


Вот уже несколько десятилетий в ТГУ разрабатываются приборы для бесконтактного локального экспрессного измерения электрофизических параметров кремния и германия в широкой области температур 80 - 350 К на СВЧ.

Методика измерения основана на зависимости добротности СВЧ-резонатора от величины удельного сопротивления исследуемого образца. Время жизни ННЗ определяется по спаду импульсной фотопроводимости. В последние годы в этой области достигнуты хорошие результаты. Выпущен прибор пятого поколения, который удостоен несколькими золотыми медалями на международных выставках. Это приборы серии «SemiCon - 1». В 2012 году этот прибор внесён в ГосРеестр измерительных приборов России.



Ваше мнение



CAPTCHA