Категория
Информатика
Тип
контрольная работа
Страницы
15 стр.
Дата
28.08.2015
Формат файла
.html — Html-документ
Архив
1074981.zip — 9.52 kb
  • konstruirovanie-i-texnologija-tonkopljonochnyx-gis_1074981_1.html — 38.12 Kb
  • Readme_docus.me.txt — 125 Bytes
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо


Текст работы

Контрольная работа

по дисциплине «Тонкоплёночная Электроника»

Тема: Конструирование и технология тонкоплёночных ГИС

Содержание


Введение

. Расчет и проектирование пленочных элементов

.1 Конструктивный расчет тонкопленочных резисторов

.2 Расчет и проектирование тонкопленочных конденсаторов

. Монтаж навесных компонентов

Заключение

Список использованных источников


Введение


Подложки ГИС являются диэлектрическим и механическим основаниями для расположения пленочных и навесных элементов и служат для теплоотвода. Для маломощных ГИС применяют бесщелочные боросиликатные стекла и ситаллы.

Ситаллы - это стеклокристаллические материалы, получаемые путем почти полной стимулированной кристаллизации стекол специально подобранного состава. Они занимают промежуточное положение между обычными стеклами и керамикой. Недостатком стекол считается процесс местной кристаллизации - расстекловывание, приводящий к появлению неоднородности и ухудшению свойств стеклянных изделий. Если в состав стекол, склонных к кристаллизации, ввести одну или несколько добавок веществ, дающих зародыши кристаллизации, то удается стимулировать процесс кристаллизации стекла по всему объему изделия и получить материал с однородной микрокристаллической структурой.

Технология получения ситалла состоит из нескольких операций. Сначала получают изделие из стекломассы теми же способами, из обычного стекла. Затем его подвергают чаще всего двухступенчатой термической обработке при температурах 500 - 700°С и 900оС - 1100°С. На первой ступени происходит образование зародышей кристаллизации, на второй - развитие кристаллических фаз. Содержание кристаллических фаз к окончанию технологического процесса достигает порядка 95%, размеры оптимально развитых кристаллов составляют 0,05-1 мкм. Изменение размеров изделий при кристаллизации не превышает 1-2%.



Ваше мнение



CAPTCHA