Категория
Информатика
Тип
курсовая работа
Страницы
21 стр.
Дата
19.08.2015
Формат файла
.html — Html-документ
Архив
1073245.zip — 13.25 kb
  • jelektronno-mikroskopicheskie-metody-issledovanija-materialov_1073245_1.html — 54.57 Kb
  • Readme_docus.me.txt — 125 Bytes
Оцените работу
Хорошо  или  Плохо


Текст работы

Федеральное агентство по образованию

ГОУ ВПО «САРАТОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ Гагарина Ю.А.»



КУРСОВАЯ РАБОТА

по дисциплине «Напылённые покрытия. Технология и оборудование»

на тему: «Электронно-микроскопические методы исследования материалов»



Выполнил: студент группы ВМТ-51

Куртаков И. В.

Проверил: д.т.н., профессор каф. ФМТМ

Лясников В.Н.



Саратов 2013


Содержание


Введение

Электронная микроскопия

Принцип действия электронных микроскопов

Растровая электронная микроскопия

Атомно - силовая микроскопия

Атомно-силовой микроскоп

Способы сканирования

Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности

Режимы сканирования

Применение АСМ

Литература


Введение


Разрешающая способность человеческого глаза - около 100 микрометров (0,1 мм), что примерно соответствует толщине волоска. Чтобы увидеть более мелкие предметы, требуются специальные устройства. Изобретенный в конце XVII века микроскоп открыл человеку новые миры, и в первую очередь мир живой клетки. Но у оптического микроскопа есть естественный физический предел разрешения - длина волны света, и этот предел (приблизительно равный 0,5 мкм) был достигнут к концу XIX века. Следующим этапом погружения в глубь микромира стал электронный микроскоп, в котором в роли луча света выступает пучок электронов. Его разрешение достигает нескольких ангстрем (0,1 нм), благодаря чему ученым удалось получить изображение вирусов, отдельных молекул и даже атомов. Но и оптический и электронный микроскоп дают лишь плоскую картинку



Ваше мнение



CAPTCHA